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SICK短量程激光测距传感器OD2-N250W150I2技术资料
点击次数:1016 更新时间:2021-04-20

SICK短量程激光测距传感器OD2-N250W150I2技术资料

独立于表面的可靠测量,大程度减少机器停机时间

极其简单的传感器示教,使设置更快,更具成本效益

紧凑,独立的设计,占用空间小,接线更少

许多测量范围和输出接口使其非常适合经济高效地集成到任何生产环境中

投资成本低,可以进行一致的定期质量检查

距离安全的非接触式测量技术允许在生产过程中直接进行检查

通过非接触式测量进行磨损和无损检查

OD Value提供了一种简单,经济的测量任务解决方案。它可以直接在机器上,非接触式,以及在运行操作中检测尺寸,形状,位置或偏心率的微小偏差。OD Value的主要特征令人信服:可靠,用户友好,有效,通用和高效,是需要在过程中定期检查和验证质量的每个人的理想解决方案。

 SICK短量程激光测距传感器OD2-N250W150I2技术资料

测量范围:100 mm...400 mm

目标::自然物体

重复性75 µm

线性度:±750 µm

响应时间:≥1 ms

测量频率:≤1.33 kHz

输出时间:≥0.75ms

光源:激光,红色

光斑尺寸典型值(距离):1.8 mm x 3.5 mm(250 mm)

电源电压Vs:DC 12 V ... 24 V

功耗:≤2.88 W

预热时间:≤30分钟

外壳材料:PBT

窗户材料:PMMA

连接类型:电缆,2 m

指示:距离条形图,max.8个状态LED

工作环境温度:–10°C ... +40°C

存储环境温度:–20°C ... +60°C

相对空气湿度(非冷凝):35%... 95%

外壳防护等级:IP67

防护等级:III

重量:70 g

 

SICK短量程激光测距传感器OD2-N250W150I2技术资料

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